武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數測試系統專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量，測溫范圍達到81K~700K，采用動態法測量Seebeck系數,避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差,測量更準確。
薄膜熱電參數測試系統產品特點
專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。
測試環境溫度范圍達到81K~700K。
采用動態法測量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。
采用四線法測量電阻率。
熱電偶探針經過嚴格的篩選配對保證測試結果的準確和穩定。
軟件操作簡單，智能化可實現全自動模式。
薄膜熱電參數測試系統測試實例
標準鎳帶測試結果
東華大學MoS2測試結果
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結果（中國科學院電工研究所提供樣品）
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結果（中國科學院電工研究所提供樣品）
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