光功率熱分析儀產品特點
光功率熱分析儀應用功能
各種材料相變溫度（融化、軟化、晶化等）的實時測定
新型材料（相變材料、相變儲能材料）的穩定性測試及性能優化
強誘導體薄膜的結晶化退火
注入離子后的擴散退火
半導體材料的燒成與退火條件研究
玻璃基板的均熱退火
熱循環試驗與熱沖擊試驗
升溫脫離試驗與觸媒試驗
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● NiAl復合薄膜 ● 氧化釩薄膜 ● PZT鐵電材料 ● MgO/Ni-Mn-Ga薄膜 ● GST相變存儲薄膜 ● 金屬Co薄膜 ● Al2O3薄膜 |
● iN薄膜 ● GeTe薄膜 ● ZrO2薄膜 ● 摻Ti的ZnSb薄膜 ● SiC薄膜 ● 顯示屏玻璃 ● 變記憶合金薄膜 |
樣品滿足以下要求： ● 尺寸：長x寬 （5-20）x（5-20） ,單位mm ● 厚 度 2.0mm（含基底）以下為宜 ● 變溫度測試樣品，具備光學反射平面 ● 熱膨脹系數測試樣品，具備光學反射雙平面 ● 適用于透光材料的熱膨脹系數檢測 ● 熱膨脹檢測樣品的熱膨脹量≥266nm |
光功率熱分析儀應用實例
| ● 紅外材料 | ● 復合材料 |
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| 圖1：VO2不同升溫速率12℃/min、15℃/min 對比圖（四川大學提供樣品） | 圖2：鋁鎳合金復合薄膜（西南科技大學提供樣品） |
| ● 相變存儲材料 | ● 熱電薄膜材料 |
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| 圖3：相變存儲材料圖（中科院微系統所提供樣品） | 圖4：熱電轉換薄膜材料（摻Ti的ZnSb）（深圳大學提供樣品） |
| ● 氧化鋯薄膜 | |
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| 圖5：ZrO2薄膜（清華大學提供樣品） | 氧化鋯薄膜與XRD對比圖 |
| ● 高溫陶瓷材料 | ● 硬質合金薄膜材料 |
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| 圖6：高溫陶瓷材料（TiN薄膜硅基底）（海南大學提供樣品） | 圖7：切削刀具相變監測曲線（武漢大學提供樣品） |
| ● SiC薄膜 | ● 顯示屏玻 |
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| SiC薄膜熱膨脹系數監測曲線（中國電子科技集團第五十五研究所提供樣品） | 顯示屏玻璃熱膨脹系數監測曲線（武漢天馬提供樣品） |
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