Model HALL series 霍爾效應測試系統是集成keithley 2400/2600系列高精度源表和semishare Polaris 高低溫平臺采用范德堡爾法則設計的應用于高精度的測量半導體材料的載流子類型（P型/N型），載流子濃度，遷移率，電阻率，霍爾系數等參數。能夠適用于 Si,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN等各種材.
本系統是集成keithley 2400/2600系列高精度源表和semishare Polaris 高低溫平臺采用范德堡爾法則設計的應用于高精度的測量半導體材料的載流子類型（P型/N型），載流子濃度，遷移率，電阻率，霍爾系數等參數。能夠適用于 Si,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN等各種材料。
特點
keithley測試平臺
超高精度的源表
模塊化的設計
功能豐富的軟件
可視化的界面
高低溫變溫環境
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