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ST-102D型探針測試臺（英文叫Prober station,中文又稱中測臺,點(diǎn)測機(jī)。)、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術(shù) 指 標(biāo) ：
粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；較小刻劃：1°； 銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。 可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。
ST-102E型探針測試臺
ST-102C型探針測試臺
ST-102D型探針測試臺
ST-102A型探針測試臺
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